北京华通特瑞光电有限公司

  • The role of mobile ions and shallow traps in governing degradation losses in perovskite solar cells

    Agenda
    • Invited talk by Prof. Martin Stolterfoht
    The role of mobile ions and shallow traps in governing degradation losses in perovskite solar cells
    • Follow-up talk by Dr. Matthias Diethelm
    Ion parameter extraction in perovskite solar cells
    • Q&A
    Your chance to ask questions about the presentations
    • Webinar host
    Dr. Matthias Diethelm, Fluxim AG
    Date & Time
    Tuesday, June 9, 2026
    10:00am-11:00am CEST
    4:00pm-5:00pm Hong Kong Time

    넶518 ¥ 0.00

  • Characterization Suite 4.5助力研究人员更充分地获取Paios、Phelos与Litos的价值

    CS 4.5的主要更新Characterization Suite 4.5进一步提升了Paios、Phelos和Litos软件环境的稳定性与易用性。
    ·更稳健的软件基础: 迁移至64位LabVIEW，并对整体架构进行重构，同时优化内存处理、引入基于SQLite的流程与结果管理机制，从而显著提升系统的稳定性与可维护性。
    ·更强的内置后处理能力: 针对瞬态、交流和直流测量，新增更多自动计算参数与拟合功能，涵盖 IMPS、MELS、MPLS、TPC/TPV、pseudo-PCE以及光谱响应度等分析，减少手动处理数据的负担。
    ·更丰富的Paios工作流程: 在Paios平台中新增对基于PMT的电致发光检测支持，引入全新的光致发光模式，并扩展了更多调制与瞬态测量类型。
    ·更高效的Phelos分析流程: 可更快速地获得法线方向的I-V-L数据，并进一步优化后处理中得几何因子修正。
    ·更完善的Litos长期稳定性研究支持:新增模板，提供更清晰的中间数据概览与更高的时间分辨率，并初步支持面向自动化实验流程的Python API

    넶8 ¥ 0.00

  • FLUXiM for OLED and OPV PSC Setfos+Laoss/Paios+Phelos/Litos Lite Integration 无缝整合独特功能！

    瑞士蘇黎世大學ZHAW 培育而成的FLUXIM公司模擬一般測試不能顯示的載子濃度器件內部介面參數分佈，解決客戶trial and error問題(掃描優化擬合..)瞬態穩態、阻抗分析量測平台 Setfos模擬軟體擬合，遷移率提取全自動、多功能測試分析系統
    -All Pero Tandem Solar Cell
    -TADF based OLED

    넶1865 ¥ 0.00

  • Fluxim Setfos 6.0 专辑 Special Issue 整合Combination 集成Integration

    1. Setfos 6.0 版本升级更新，TADF,RD, Tandem OLED功能与扩增
    2. Laoss 3D子像素串扰优化性能，热和功耗管理
    3. Opixs BT.2020 UHD 超高清标准,以创新叠层RGB,RD LED,TerboLED 和高阶布局，符合更宽色域和更高效率/低功耗要求

    넶147 ¥ 0.00

  • 美国Sinton instruments公司-少子寿命测试仪

    Cell Wafer, Block and Ingot   少子寿命量测WCT-120 晶硅片少子寿命测试仪WCT-120MX 大尺寸晶硅片少子寿命测试仪WCT-120TS 可控温晶硅片少子寿命测试仪WCT-120PL 光致发光检测器测量晶硅片寿命Suns-VocMX 后扩散过程控制仪BLS-I/BCT-400 硅块体寿命测试仪FCT-450 电池片光线I-V测试仪

    넶625 ¥ 0.00

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