北京华通特瑞光电有限公司

  • The role of mobile ions and shallow traps in governing degradation losses in perovskite solar cells

    Agenda
    • Invited talk by Prof. Martin Stolterfoht
    The role of mobile ions and shallow traps in governing degradation losses in perovskite solar cells
    • Follow-up talk by Dr. Matthias Diethelm
    Ion parameter extraction in perovskite solar cells
    • Q&A
    Your chance to ask questions about the presentations
    • Webinar host
    Dr. Matthias Diethelm, Fluxim AG
    Date & Time
    Tuesday, June 9, 2026
    10:00am-11:00am CEST
    4:00pm-5:00pm Hong Kong Time

    넶518 ¥ 0.00

  • Characterization Suite 4.5助力研究人员更充分地获取Paios、Phelos与Litos的价值

    CS 4.5的主要更新Characterization Suite 4.5进一步提升了Paios、Phelos和Litos软件环境的稳定性与易用性。
    ·更稳健的软件基础: 迁移至64位LabVIEW，并对整体架构进行重构，同时优化内存处理、引入基于SQLite的流程与结果管理机制，从而显著提升系统的稳定性与可维护性。
    ·更强的内置后处理能力: 针对瞬态、交流和直流测量，新增更多自动计算参数与拟合功能，涵盖 IMPS、MELS、MPLS、TPC/TPV、pseudo-PCE以及光谱响应度等分析，减少手动处理数据的负担。
    ·更丰富的Paios工作流程: 在Paios平台中新增对基于PMT的电致发光检测支持，引入全新的光致发光模式，并扩展了更多调制与瞬态测量类型。
    ·更高效的Phelos分析流程: 可更快速地获得法线方向的I-V-L数据，并进一步优化后处理中得几何因子修正。
    ·更完善的Litos长期稳定性研究支持:新增模板，提供更清晰的中间数据概览与更高的时间分辨率，并初步支持面向自动化实验流程的Python API

    넶8 ¥ 0.00

  • FLUXiM for OLED and OPV PSC Setfos+Laoss/Paios+Phelos/Litos Lite Integration 无缝整合独特功能！

    瑞士蘇黎世大學ZHAW 培育而成的FLUXIM公司模擬一般測試不能顯示的載子濃度器件內部介面參數分佈，解決客戶trial and error問題(掃描優化擬合..)瞬態穩態、阻抗分析量測平台 Setfos模擬軟體擬合，遷移率提取全自動、多功能測試分析系統
    -All Pero Tandem Solar Cell
    -TADF based OLED

    넶1866 ¥ 0.00

  • Fluxim Setfos 6.0 专辑 Special Issue 整合Combination 集成Integration

    1. Setfos 6.0 版本升级更新，TADF,RD, Tandem OLED功能与扩增
    2. Laoss 3D子像素串扰优化性能，热和功耗管理
    3. Opixs BT.2020 UHD 超高清标准,以创新叠层RGB,RD LED,TerboLED 和高阶布局，符合更宽色域和更高效率/低功耗要求

    넶147 ¥ 0.00

  • Next-generation displays(OLED/Mini-LED/Micro-LED)Evaluation and analysis for quality defects

    Next-generation displays(OLED/Mini-LED/Micro-LED)Evaluation and analysis for quality defects
    Evaluation and analysis example
    1. Gradient Mura
    2. Individual differences of subpixel
    3. Mura in subpixel
    4. Color mixture (light leaking from bank material)
    5.NIR-OLED(The light source for face authentication)
    6. Residual image(Burn-in)
    7. High precision and speed measurement in production line8. Organic EL display standard

    넶137 ¥ 0.00

OLED OPV PSC

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